鑄鐵平板的平面度該如何測量?泊鑄推薦方法如下
2017年03月24日
新聞詳情
用光學儀器測量鑄鐵平板平面度的測量方法,將平面掃描儀架在被測平臺上,目標I、目標II、目標III圍繞測微準直望遠鏡放置,且平行于支腳AC和BC的連線,把光學頭轉向目標I,并把望遠鏡調焦到目標I上,調整支腳B的調整螺釘,使望遠鏡十字線初步對準目標I上條紋。再轉向目標III調整掃描儀的測微鼓輪,使目標III接近望遠鏡十字線。光學頭轉向目標II,調整支腳A的調整螺釘,使望遠鏡十字線與目標II對中,經反復調整支腳高度和測微鼓輪,使望遠鏡十字線與三目標對中,建立了基準面,將目標IV放在要測量位置,用平面掃描儀的光學測微器讀出該位置對基準面的偏差。適合鑄鐵平板/鑄鐵平臺的平面度測量,通用性強、速度快、測量度高。
鑄鐵平板平面度誤差的測(ce)量:
平面度誤差的測量方(fang)法很(hen)多,常(chang)用(yong)的有如下所(suo)列的方(fang)法:
①光(guang)(guang)隙法:將(jiang)被(bei)測(ce)(ce)直線和測(ce)(ce)量基線間(jian)形成(cheng)的(de)光(guang)(guang)隙,與標準光(guang)(guang)隙比較,測(ce)(ce)量不同方(fang)(fang)向的(de)若干個截(jie)面上的(de)直線度誤(wu)差,取其中大值(zhi),作為平(ping)面度誤(wu)差近似值(zhi)的(de)方(fang)(fang)法。該(gai)方(fang)(fang)法適用于磨削(xue)或研磨加工的(de)小平(ping)面的(de)鑄鐵平(ping)板平(ping)面度誤(wu)差測(ce)(ce)量。
②指(zhi)示(shi)器法(fa):將(jiang)被測(ce)(ce)(ce)(ce)零件支(zhi)撐在(zai)測(ce)(ce)(ce)(ce)量平板(ban)上(shang),鑄(zhu)(zhu)鐵平板(ban)工(gong)作(zuo)面(mian)為(wei)測(ce)(ce)(ce)(ce)量基準,按一(yi)定(ding)(ding)(ding)的方(fang)式(shi)布點(dian),用指(zhi)示(shi)器對被測(ce)(ce)(ce)(ce)面(mian)上(shang)各點(dian)進(jin)行測(ce)(ce)(ce)(ce)量并記錄所測(ce)(ce)(ce)(ce)數(shu)據,然(ran)后,按一(yi)定(ding)(ding)(ding)的方(fang)法(fa)評定(ding)(ding)(ding)其(qi)誤(wu)差(cha)值。該方(fang)法(fa)適用于中(zhong)、小平面(mian)的鑄(zhu)(zhu)鐵平板(ban)平面(mian)度誤(wu)差(cha)測(ce)(ce)(ce)(ce)量。
③光(guang)軸(zhou)法(fa):以幾何光(guang)軸(zhou)建(jian)立測量基面(mian),測出被測面(mian)相對測量基面(mian)的(de)偏離量,進而(er)評定鑄(zhu)鐵(tie)平(ping)板平(ping)面(mian)度誤差值的(de)方(fang)法(fa),該(gai)方(fang)法(fa)適(shi)用于一般(ban)度大平(ping)面(mian)的(de)鑄(zhu)鐵(tie)平(ping)板平(ping)面(mian)度誤差測量。
④干(gan)涉(she)(she)法(fa)(fa):利用光(guang)波干(gan)涉(she)(she)原(yuan)理,根據干(gan)涉(she)(she)條紋(wen)形狀、條數,來確定平面(mian)度(du)誤差值的方法(fa)(fa),該方法(fa)(fa)適用于研表面(mian)的鑄鐵(tie)平板平面(mian)度(du)誤差測量(liang)。
⑤三坐(zuo)標測(ce)量(liang)(liang)機(ji):三坐(zuo)標測(ce)量(liang)(liang)機(ji)是(shi)綜合利(li)用jingmi機(ji)械、微電(dian)子、光(guang)柵和(he)激(ji)光(guang)干涉儀等技(ji)術的(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)儀器,其原理(li)是(shi)在(zai)三個(ge)相(xiang)互垂直的(de)(de)方向(xiang)上,有(you)導(dao)向(xiang)機(ji)構、測(ce)長(chang)元(yuan)件、數顯裝置,有(you)一(yi)個(ge)能夠放(fang)置工(gong)件的(de)(de)工(gong)作臺,測(ce)頭可以以手動或機(ji)動方式,輕快地移動到被(bei)測(ce)點上,由讀數設備和(he)數顯裝置,把被(bei)測(ce)點的(de)(de)坐(zuo)標值顯示出來的(de)(de)一(yi)種測(ce)量(liang)(liang)設備。
除上面介(jie)紹的幾種(zhong)方法外,還(huan)有液面法、自準直儀法等,鑄鐵平板生產廠家常(chang)采用光學合像水平儀測定(ding)測量平板的平面度誤差(cha)。
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